11月13日下午，半导体促进会组织召开了《高速ESD&TVS保护类芯片测试规范》团体标准研讨会议。本次会议线上+线下并行，参会人员有深圳市半导体产业发展促进会鲍恩忠会长、深圳市质量计量检测研究院蔡纯博士、深圳市晶扬电子有限公司朱博士及其团队、南京工业职业技术大学-集成电路学院、无锡科技职业学院-集成电路学院、深圳市南方硅谷半导体股份有限公司、深圳市智微智能科技股份有限公司、深圳市长运通半导体技术有限公司、深圳市志忠微电子有限公司、隼瞻科技（广州）有限公司、江苏信息职业技术学院-微电子学院、深圳市依崇微电子科技有限公司、深圳大学-电子与信息工程学院、深圳市三一联光智能设备股份有限公司、芯创（天门）电子科技有限公司、深圳市德博微电子有限公司、锐石创芯（深圳）半导体有限公司、深圳市华南英才科技有限公司、西北工业大学、深圳市金誉半导体股份有限公司、深圳市信展通电子股份有限公司、东莞平晶微电子科技有限公司、东莞市冠晶电子有限公司、深圳深爱半导体股份有限公司等20余位专家及企业代表。

本团体标准由深耕IC集成设计、静电保护器件的国高企业、专精特新重点小巨人企业——深圳市晶扬电子有限公司牵头、起草标准草案，旨在制定统一的高速ESD&TVS 保护类芯片测试规范，具体如下：

1.统一主流高速接口的TVS 选型参数，为不同接口类型提供明确的选型依据，降低应用端设计难度；

2.明确高频电容、S 参数等关键指标的测试流程及设备校准规范，确保不同测试机构的测试数据具有可比性；

3.指导企业在电路布局等方面进行科学设计，提升设备可靠性。

会上，晶扬电子针对公司实力、本团体标准制定背景、标准内容进行充分详细地阐述。

本次研讨会线上线下讨论气氛热烈，与会专家对该标准逐字逐句阅读并提出修改建议，会上提出的各项问题点与建议，将继续进行完善与验证，以使标准内容更加严谨、表述更加规范，也期待更多行业专家提出更多宝贵的建议。